CY3307 Wafer epitassiale SiC-GaN EPI

Catalogo no.	CY3307
Materiale del substrato	SiC
Diametro	4, 5, 6, 8 pollici
Spessore dell'epi-strato, µm	0.1-100
Orientamento	<100>, <111>
Spessore del substrato (um)	300-725

Wafer epitassiale SiC-GaN EPI si riferisce a un film sottile di semiconduttore cresciuto su un substrato. Stanford Advanced Materials (SAM) ha una ricca esperienza nella produzione e fornitura di prodotti ottici di alta qualità.

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Diametro del wafer		4"	5"	6"	8"
Strato EPI	Dopante	Boro, fosforo, arsenico
	Orientamento	<100>, <111>
	Tipo di conducibilità	P/P++, N/N++, N/N+, N/N+/N++, N/P/P, P/N/N+
	Resistività	0,001-50 Ohm-cm
	Res. Uniformità	Standard <6%, Capacità massima <2%
	Spessore (um)	0.1-100
	Uniformità dello spessore	Standard <3%, capacità massima <1%
Substrato	Orientamento	<100>, <111>
	Tipo di conducibilità/dopante	Tipo P/Boron, Tipo N/Phos, Tipo N/As, Tipo N/Sb
	Spessore (um)	300-725
	Resistività	0,001-100 Ohm-cm
	Condizione della superficie	P/P, P/E
	Particella	<50@.0.5um

Diametro del wafer		4"	5"	6"	8"
Strato EPI	Dopante	Boro, fosforo, arsenico
	Orientamento	<100>, <111>
	Tipo di conducibilità	P/P++, N/N++, N/N+, N/N+/N++, N/P/P, P/N/N+
	Resistività	0,001-50 Ohm-cm
	Res. Uniformità	Standard <6%, Capacità massima <2%
	Spessore (um)	0.1-100
	Uniformità dello spessore	Standard <3%, capacità massima <1%
Substrato	Orientamento	<100>, <111>
	Tipo di conducibilità/dopante	Tipo P/Boron, Tipo N/Phos, Tipo N/As, Tipo N/Sb
	Spessore (um)	300-725
	Resistività	0,001-100 Ohm-cm
	Condizione della superficie	P/P, P/E
	Particella	<50@.0.5um

CY3307 Wafer epitassiale SiC-GaN EPI

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