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CY3453 Substrato YSZ rivestito di CeO2

Catalogo no. CY3453
Materiale del substrato <110>, YSZ, 10x10x0,5 mm
Finitura superficiale Un lato lucidato
Orientamento <110>
Composizione del film sottile epitassiale CeO2
Spessore del film epitassiale 40 nm ± 10 nm

Ilsubstrato YSZ rivestito di CeO2 può essere utilizzato come substrato nel campo delle nanotecnologie, della microscopia elettronica a scansione (SEM) e della microscopia a forza atomica (AFM). Stanford Advanced Materials (SAM) ha una ricca esperienza nella produzione e fornitura di prodotti ottici di alta qualità.

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