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Catalogo no. | CY3452 |
Composizioni | Ti, SiO2, Si |
Dimensione | 2, 4, 6, 8" |
Spessore del film | Ti: 15-100nm, o personalizzato |
Ilsubstrato SiO2/Si rivestito di Ti può essere utilizzato nel campo delle nanotecnologie, nella microscopia elettronica a scansione (SEM), nella microscopia a forza atomica (AFM) e in altri campi del microscopio a scansione. Stanford Advanced Materials (SAM) ha una ricca esperienza nella produzione e fornitura di prodotti ottici di alta qualità.
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