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Catalogo no. | CY3439 |
Composizioni | Ag, Cr, SiO2, Si |
Spessore del rivestimento | Cr 2-7nm Ag 50nm |
Dimensione | 4", 50 mm, 100 mm di diametro, o personalizzato |
Spessore | 0,525 mm, 0,279 mm |
Lucidatura | Un lato lucidato |
Ilsubstrato SiO2/Si rivestito di Ag/Cr può essere utilizzato nel campo delle nanotecnologie, nella microscopia elettronica a scansione (SEM), nella microscopia a forza atomica (AFM) e in altri campi del microscopio a scansione. Stanford Advanced Materials (SAM) ha una ricca esperienza nella produzione e fornitura di prodotti ottici di alta qualità.
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