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CY3439 Wafer di silicio placcato con Ag (substrato SiO2/Si rivestito con Ag/Cr)

Catalogo no. CY3439
Composizioni Ag, Cr, SiO2, Si
Spessore del rivestimento Cr 2-7nm Ag 50nm
Dimensione 4", 50 mm, 100 mm di diametro, o personalizzato
Spessore 0,525 mm, 0,279 mm
Lucidatura Un lato lucidato

Ilsubstrato SiO2/Si rivestito di Ag/Cr può essere utilizzato nel campo delle nanotecnologie, nella microscopia elettronica a scansione (SEM), nella microscopia a forza atomica (AFM) e in altri campi del microscopio a scansione. Stanford Advanced Materials (SAM) ha una ricca esperienza nella produzione e fornitura di prodotti ottici di alta qualità.

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