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Catalogo no. | CY3436 |
Composizioni | Au, Ti, SiO2, Si |
Resistività | 1-20 ohm.cm |
Lucidatura | Un lato lucidato |
Dimensione del substrato | Diametro 100/50 mm, spessore 0,525 mm/0,279 mm |
Rugosità della superficie | < 10 A RMS |
Ilsubstrato SiO2/Si rivestito di Au/Ti può essere utilizzato nel campo delle nanotecnologie, nella microscopia elettronica a scansione (SEM), nella microscopia a forza atomica (AFM) e in altri campi del microscopio a scansione. Stanford Advanced Materials (SAM) ha una ricca esperienza nella produzione e fornitura di prodotti ottici di alta qualità.
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